반도체 소자 신뢰성(Device Modeling Reliability) 연구실(Lab)
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본 연구실에서는 차세대 반도체 소자(DRAM, NAND, Logic, Power devices)에 대한 시뮬레이션 모델링 및 신뢰성 측정 연구를 하고 있습니다.
연구분야
DRAM 연구
- Saddle-Fin DRAM (RCAT) 구조의 신뢰성 시뮬레이션
- 수직 구조 DRAM 구조 최적화 모델링
VNAND(3D NAND) 연구
- NAND retention modeling 연구
- NAND reliability simulation 연구
Logic 반도체 (CPU, AP)소자 연구
- FinFET 에서의 방사선 시뮬레이션 연구
- SRAM 단위의 동작 오류 해석
- NanoSheet 및 차세대 Logic 소자 연구
전기차 및 전력용 반도체 소자 연구
- Superjunction 신뢰성 시뮬레이션 연구
- 머신러닝 기반 SiC 최적화 연구
최근 업데이트 일시 : 2021/06/14 18:40:20